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Product classification

實(shí)驗(yàn)室光譜分析系列

ICP電感耦合光譜儀

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產(chǎn)品名稱：物證斷層檢驗(yàn)儀iForenOCT 1310

發(fā)布時(shí)間：2025-08-15

產(chǎn)品型號：iForenOCT 1310型

產(chǎn)品特點(diǎn)：物證斷層檢驗(yàn)儀iForenOCT 1310采用新型三維穿透成像技術(shù)，能在案件現(xiàn)場對物證進(jìn)行原位、無損、快速、超高分辨的三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)成像。高分辨物證斷層檢驗(yàn)儀可用于膠帶、油漆、指紋、皮膚毛囊、針刺傷、朱墨時(shí)序等物證的檢驗(yàn)與分析。

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iForenOCT 1310型物證斷層檢驗(yàn)儀iForenOCT 1310的詳細(xì)資料：

物證斷層檢驗(yàn)儀iForenOCT 1310介紹

物證斷層檢驗(yàn)儀iForenOCT 1310采用新型三維穿透成像技術(shù)，能在案件現(xiàn)場對物證進(jìn)行原位、無損、快速、超高分辨的三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)成像。高分辨物證斷層檢驗(yàn)儀可用于膠帶、油漆、指紋、皮膚毛囊、針刺傷、朱墨時(shí)序等物證的檢驗(yàn)與分析。對于外觀相似的物證，高分辨物證斷層檢驗(yàn)儀可通過測量物證內(nèi)部的結(jié)構(gòu)及光學(xué)特征參數(shù)進(jìn)行溯源，有助于在案件現(xiàn)場發(fā)現(xiàn)常規(guī)方法難以發(fā)現(xiàn)的隱藏物證。

技術(shù)特點(diǎn)

不損傷物證，采用1310nm寬帶近紅外光源，低能量無損傷

深入探測，多層分析，檢測深度范圍200μm~2mm

高清成像，三維成像空間分辨率達(dá)10μm，成像信噪比>100dB

內(nèi)部結(jié)構(gòu)實(shí)時(shí)成像，二維實(shí)時(shí)斷層成像速度達(dá)100幀每秒

整機(jī)輕便，可隨身攜帶，操作簡單直觀，適合現(xiàn)場使用

快速重構(gòu)物證三維形貌和內(nèi)部影像，三維體成像時(shí)間<10s

掃描成像范圍＞6mm×6mm

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